OLED 유기 코팅막 두께 측정
유기발광다이오드(OLED)의 생산은 3nm ~ 500nm 두께의 인듐- 주석-산화물 또는 유기층과 같은 다양한 물질의 박막 코팅 공정에 기반을 두고 있습니다.
(주)에이비네트웍스는 OLED 스택에 현재 사용되는 유기 및 무기 Layer를 포함한 모든 유형의 Layer를 Inline, Offline으로 측정할 수 있는 제품 그룹을 제공합니다.
증착하는 동안 다양한 공정 변수들이 유기막의 두께 및 광학상수 n&k에 영향을 미칩니다. 박막 두께 측정에서의 경험을 바탕으로 특수 제작된 광학 부품은 두께, 광학상수 n&k 측정에 필요한 분광 반사율, 투과율을 측정 신뢰성 · 속도 · 정밀도를 보장하도록 설계되었습니다.
웹 코팅 두께 측정
(2차전지 절연막 코팅 두께 측정)
반사율 + 투과율을 고려한 두께 측정 시스템은 5nm ~ 3,000nm / 1 micron ~ 25 micron의 얇은 두께 뿐만 아니라, 0.5 micron ~ 1,300 micron의 두꺼운 두께 측정이 가능합니다.
생산라인에서 투과율까지 고려한 Inline 고속 측정이 가능합니다. 400m/min, 800m/min등 생산속도에 따른 Inline 측정, Line SCAN을 지원합니다.
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Glass Coating
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Web Coating
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Roll to Roll
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Wet · Dry Coating
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Vacuum Coating
PCB등 전자부품 코팅막 두께 측정
PCB의 Solder Resist 코팅 및 각종 전자부품 Conformal 코팅 두께 측정을 하려면 패턴 사이 GND위 등 특정 지점의 두께 측정이 필요할 수 있습니다.
NXT의 TCM-MICROSCOPE는 5, 12.5, 25, 50, 125µm 등 다양한 측정지점의 크기 옵션을 지원하며 특정 지점의 코팅 두께 측정이 가능합니다.
제약 및 의료
안과용 반사방지 및 하드코팅 측정
비파괴 방식 샘플링을 통한 공정 제어 및 품질관리. 품질 목표를 달성하고 생산성을 향상하는 유일한 방법은 포괄적인 비파괴 검사를 적용하는 것입니다.
NXT는 반사 방지(AR) 코팅의 분광 반사율 및 색상 외관 또는 투명 및 반투명 곡면의 하드 코팅 및 바니쉬 코팅층 두께를 빠르고 정확하게 측정할 수 있는 비접촉식 계측기를 제공합니다.
바이알 내부 코팅 측정
Vial 내부 코팅을 확인하고 의약품 제조공정에서 요구되는 GMP 품질 요구사항을 충족하기 위해서는 Vial 코팅 두께의 전수검사가 필수입니다.
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100% 전수검사
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1분에 35개 이상 Vial 두께 측정 가능
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모듈형태의 기존 생산라인에 쉽게 적용 가능
태양전지
Helios 태양전지 솔루션
태양 전지를 생산하기 위해서는 몇 가지 단계가 필요합니다. 가장 중요 한 단계는 웨이퍼의 반사율을 줄이기 위한 베어웨이퍼의 텍스처링, pn 접합을 생성하는 도핑 및 SiN 코팅을 사용하여 반사 방지 효과뿐만 아니 라 웨이퍼 표면의 패시베이션을 증가시키는 것입니다. 이러한 모든 공정 단계는 전지효율에 중요한 영향을 미칩니다.
따라서 NXT는 여러 공정 단 계에서 공정 매개 변수의 안정성과 동질성을 보장하기 위해 공정 및 품질 관리를 위한 여러 Inline 및 Offline 측정 시스템을 제공합니다. NXT 측정 시스템 사용을 통해 최고의 셀 효율성으로 최고의 셀 성능을 보장할 수 있습니다.
측정 원리
Helios 제품 라인은 당사의 잘 알려진 분광기 및 카메라 기술을 사용합 니다. 이 기술은 서로 다른 산업 분야에서 20년 동안 입증되었습니다. 특정 작업에 최적화된 광학 설정은 고정밀 반사 스펙트럼 및 카메라 이미지를 측정하는데 사용 됩니다.
이러한 데이터를 기반으로 NXT는 고도의 수학적 알고리즘과 물리적 모델 을 사용하여 Layer 두께, 굴절률, 절대 반사값 및 기타 매개 변수를 매우 정확하고 안정적으로 계산합니다.
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